云南尺寸测量检测公司

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3D扫描与逆向工程
由于消费性电子产品对其外观曲面的要求越来越高，在曲面光滑性和精度上也有着越来越高的要求，传统的尺寸检测方法已经不能满足其要求。
主要服务项目：
表面粗糙度测量（Rz、Ra、Rq、Rv、Sa、Sz等参数）；
波纹度检测；
机械加工、表面处理等制程；
轮廓尺寸测量、轮廓尺寸验证；
表面失效/缺陷尺寸分析（划痕、白点、表面雾化等）；
微观尺寸测量（长宽高、半径、面积、体积等）；
透明/半透明膜厚测试；
3D微观表面扫描、3D微观表面缝合扫描；
非常规尺寸测量（微小部件圆角半径、倒角塌边等）；
粉末颗粒粒径测量；
产品加工刀纹尺寸测量等。

服务项目：
FAI（产品件检验） 
TVR（模具验证） 
CpK （制程能力验证及分析） 
GR&R (量测能力验证及分析）
普通尺寸检测
形位公差检测

采用三维扫描仪能够快速地获得扫描物体的点云数据，通过的运用后期软件，就能准确地获得扫描物体的三维实体数据。表面粗糙度是指零件表面上具有较小间距和微小峰谷所形成的微观几何形状误差。是零件表面评定的重要技术指标之一。表面粗糙度是衡量已加工表面质量的重要标志之一，它对零件的耐磨性、耐腐蚀性、疲劳强度和配合性质都有很大影响。影像测量机通过镭射的探照，可轻松测量样品的小孔直径、样品轮廓等较为复杂的尺寸。

表面粗糙度参数含义
Ra评定轮廓算术平均偏差：在一个取样长度内纵坐标值的的算术平均值。
Rz轮廓大高度：在一个取样长度内，大轮廓峰高与低轮廓谷深之间的距离。（在GB/T 3505-83版中Rz曾用于表示‘不平度的十点高度’。）
Rt轮廓总高度：在评定长度内大轮廓峰高和低轮廓谷深之间的距离。（由于评定长度≥取样长度，故Rt≥Rz）
Sa评定表面算术平均偏差:在取样面积内纵坐标的的算术平均值。（3D光学干涉法测量出的面粗糙度，适用于Ra≤0.8微米的表面粗糙度）
Rq评定轮廓的均方根差：在一个取样长度内纵坐标的均方根值。
测量方法：探针接触式测量法、光学干涉非接触式测量法
检测设备：2D轮廓扫描仪、3D光学干涉仪
都检测中心3D验证实验室配备有目前市场上的扫描设备ATOS，利用光学拍照定位技术和光栅测量原理及其特的自动拼接技术，拓展出对曲面的检测和外观缺陷分析的能力。同时延伸出逆向工程、机构设计，以满足市场需求。
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