宜宾三次元尺寸测量测量后出具检测报告

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形位公差检测
零件结构的几何形状和相对位置是由形状公差和位置公差来保证。对某些精度要求较高的零件，不仅需要保证其尺寸公差，而且还要保证其形位公差。
形位公差可为分为形状公差和位置公差。
形状公差包括直线度、平面度、圆度、圆柱度、线轮廓度、面轮廓度。
位置公差包括
定向公差（平行度、垂直度、倾斜度）
定位公差（同轴度、对称度、位置度）
跳动公差（圆跳动、全跳动）
微观尺寸是一般是指用三坐标测量机及影像测量机等高精度测量仪器也无法量测尺寸，通常指2μm以下 的尺寸。而随着现代制造工艺和产品设计水平的不断提高，多维曲面的频繁使用，使得逆向测绘变得十分困难。

微观尺寸检测
采用布鲁克的3D白光干涉仪、东京精密的2D探针轮廓仪、扫描电子显微镜等国际超精密设备，能为企业提供微米、纳米级别的微观尺寸量测、3D形貌扫描分析、非常规尺寸（如微小部件的R角半径、样品表面异常分析等）以及表面粗糙检测等服务，帮助企业解决一系列产品开发、生产过程中出现的各种异常状况，协助企业管控生产质量。

表面粗糙度参数含义
Ra评定轮廓算术平均偏差：在一个取样长度内纵坐标值的的算术平均值。
Rz轮廓大高度：在一个取样长度内，大轮廓峰高与低轮廓谷深之间的距离。（在GB/T 3505-83版中Rz曾用于表示‘不平度的十点高度’。）
Rt轮廓总高度：在评定长度内大轮廓峰高和低轮廓谷深之间的距离。（由于评定长度≥取样长度，故Rt≥Rz）
Sa评定表面算术平均偏差:在取样面积内纵坐标的的算术平均值。（3D光学干涉法测量出的面粗糙度，适用于Ra≤0.8微米的表面粗糙度）
Rq评定轮廓的均方根差：在一个取样长度内纵坐标的均方根值。
测量方法：探针接触式测量法、光学干涉非接触式测量法
检测设备：2D轮廓扫描仪、3D光学干涉仪

主要服务项目：
表面粗糙度测量（Rz、Ra、Rq、Rv、Sa、Sz等参数）；
波纹度检测；
机械加工、表面处理等制程；
轮廓尺寸测量、轮廓尺寸验证；
表面失效/缺陷尺寸分析（划痕、白点、表面雾化等）；
微观尺寸测量（长宽高、半径、面积、体积等）；
透明/半透明膜厚测试；
3D微观表面扫描、3D微观表面缝合扫描；
非常规尺寸测量（微小部件圆角半径、倒角塌边等）；
粉末颗粒粒径测量；
产品加工刀纹尺寸测量等。
成都检测中心拥有一批高精密度的大型检测设备和一批训练有素的检测的团队,能够为客户提供的尺寸检测与形位公差检测服务。
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